1. 系统概述
YB6050测试仪是本公司早期推出的一款半导体分立器件测试测试设备。本仪器适合各电子单位以及在线开发器件做来料测试。可以满足用户大小批量生产测试需要,故障率低也保证了用户的工作效率。在面板窗口提示下操作,双显示对比面板,操作人员不需具备专业知识,使用即可操作。
系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证各种情况下测试结果的准确可靠。
2. YB6050测试仪指标
1、主极电压: 2000V
2、主极电流: 100A
3、测试精度: 3%
3. YB6050主要特性
1、测试电压2000V.
2、可控硅触发电流IGT 测量范围:6—1000uA ,
0—10.00mA, 0—100.0mA 精度:≤3 % 。
3、可控硅触发电压VGT测量范围:0—5V, 精度:≤5 % 。
4、可控硅光耦输入端LED触发电压VFT
测量范围:0—3V 精度:≤5 % 。
5、可控硅和可控硅光耦输出端,正反向不重复峰值电压
VDSM/VRSM测量范围:0—2KV精度:≤3 % 。
6、可控硅和可控硅光耦输出端,正反向重复峰值电压
VDRM/VRRM测量范围 0—1.6KV精度:≤5 % 。
7、可控硅光耦输入端LED触发电流IFT测量范围:
0—10.00mA, 0—100.0mA 精度:≤3 %
4. YB6050测试范围
1、各类二极管、三极管、达林顿管、整流桥、MOS场效应管、IGBT及各种模块的耐压测试。
2、压敏电阻、稳压管、双向触发二极管等电压值的测试。
3、全系列单双向塑封可控硅触发电流IGT、触发电压VGT的测试,正反向不重复峰值电压 VDSM / VRSM的测试,
正反向重复峰值电压VDRM / VRRM的测试。
4、DIP-6、DIP-4封装的过零和非过零检测可控硅输出的光电耦合器和DIP-6封装的单向可控硅输出的光电耦合器输入
LED端IFT / VFT的测试,输出端可控硅正反向不重复峰值电压VDSM / VRSM的测试,
正反向重复峰值电压VDRM / VRRM的测试。
5、电流在200A以内,VDSM / VRSM在2KV以内,触发电流在120mA以内的螺铨型单、双向可控硅和可控硅组合模块的触
发电压IGT、触发电流VGT的测试,正反向不重复峰值电压VDSM / VRSM的测试,
正反向重复峰值电压VDRM / VRRM的测试。
5. 外形尺寸和电源要求
工作温度:25℃--40℃
贮存温度: -15℃--50℃
工作湿度:45%--80%
贮存湿度:10%--90%
工作电压:200v--240v
电源频率:47HZ--63HZ
接地要求:供电电源应良好接地。
系统功耗:<80w
设备尺寸:150mm×240mm×280mm
6. 售后服务及保修期限
1.质保期为6个月,质保期内免费进行产品维修和各项技术支持;
2.终生产品技术支持,包括硬件维修,软件升级等,硬件维修收取成本价,软件实行免费升级;
3.产品售后在接到用户电话、传真、电子邮件服务申请后30分钟内给予答复,并向用户询问系统自检结果等现场故障情
况。在收到用户提供的自检结果后24小时内完成维修服务,恢复用户生产;48小时内完成一般省外维修服务,
恢复用户生产;华东、东北等偏远用户在72小时内完成维修服务,恢复 筛选生产。
4. 终生免费提供半导体测试技术咨询.