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<BR>[B] 背景[/B]<BR><BR> 科学技术的飞速发展,特别是信息技术的发展,催生了众多的新工艺、新材料、新产品,给人们的生产生活带来了日新月异的变化,然而所有这些新工艺、新材料、新产品都离不开仪器仪表和测控技术,测控技术是这些产品质量的重要保证。随着被测试系统、产品的发展水平日趋提高——速度越来越快、体积越来越小、应用覆盖范围越来越广,人们对测控技术及仪器仪表的要求也越来越高,促使测控技术和仪器仪表不断出现新理论、新技术和新方法。为了进一步促进现代测控技术和仪器仪表的发展,加快该领域科研成果的推广、移植和转化的步伐,给业内人士提供一个面对面交流与探讨仪器仪表、测控技术的机会,于2007年6月初,中国仪器仪表学会、《仪器仪表学报》、《国外电子测量技术》与《电子测量技术》联合在成都举办“2007’中国仪器仪表与测控技术交流大会”。<BR><BR> 此次大会旨在搭建一个面向产、学、研、用各个层次的交流平台,诠释仪器仪表行业及测控技术的应用状况和发展趋势,全面推进先进技术的应用进程,促进仪器仪表行业的变革和发展。张钟华院士、孙圣和、陈光 、王厚军等多位著名专家届时到会作主题演讲,此外国内外测试、测量巨擎,安捷伦、中电科技集团四十一研究所等行业中流砥柱也将做精彩报告。大会主会场设在电子科技大学,分会场将设在九寨沟。<BR><BR> 主办单位 中国仪器仪表学会、电子科技大学、《仪器仪表学报》、《国外电子测量技术》、 《电子测量技术》杂志社<BR><BR>协办单位 中国仪器与测量网<BR> 北京自动化学会<BR>会议主题 “技术驱动应用”<BR><BR>[B]论文征集[/B]<BR> 本次会议征文的内容要求突出先进性、可推广性和可应用性,征文范围包括(但不限于此,凡与测控技术和仪器仪表相关的,具有一定学术价值的文章均可参加):<BR><BR>1. 仪器仪表与测试测量技术的发展趋势。 2. 可靠性与寿命测试。<BR>3. 电子计量,脉冲波形测量与校准。 4. 虚拟仪器在测试和计量系统中的应用。<BR>5. 精密测试仪器及其技术与控制。 6. 电磁兼容(EMC/EMI)测试技术。<BR>7. 网络测量技术,网络化测试系统(LXI)。8. 射频和微波测量。<BR>9. 精密光电器件与设备测试。 10. 传感器及测控单元技术。<BR>11. 嵌入式技术、网络技术及其应用。 12. 时间和频率测量技术。<BR>13. 通信网络测试技术。 14. IC测试。<BR>15. 汽车电子仪表与测试。 16. 故障诊断、模拟和排除。<BR>17. 信号采集、分析与处理。 18. 总线技术和测试系统。<BR>19. 数字电视测试技术。 20. 电磁测量技术。<BR>21. 噪声、相位噪声测量技术。 22. 遥感监测技术与应用。<BR>23. 光机电一体化技术及微系统。 24. 微纳米等新材料开发、制备、应用与测试。<BR>25. 医用电子仪器及应用系统。 <BR><BR> 本次大会将面向全国征集学术论文,经专家组评审后,论文将在工程索引(Ei)收录的中文核心期刊《仪器仪表学报》增刊上刊登.<BR><BR>[B]论文提交须知[/B]<BR>1.务必提交未公开发表的论文,同时不得一稿多投,不得抄袭,文责自负。<BR>2.论文应有较高的学术水平和实际参考价值。<BR>3.受资助的论文请注明项目名称和编号。<BR>4.论文字数在5000字左右,论文中插图线条要清晰、准确,如有照片要另附原版。附300字以上的中英文摘要及3~5个关键词。文章采用WORD格式,E—mail发送(投稿者请自留底稿)。<BR>5.在参考文献后附100字以内的作者简介及详细的联系方式。<BR><BR>[B]重要日期[/B]<BR>日 期 事 项<BR>2007年4月1日 论文提交截止日期<BR>2007年6月(具体时间待定) 会议举行日期<BR><BR> 本次大会的报名工作现已全面展开,如果您对此次行业盛会感兴趣,即便您没有提交论文也可以填好[URL=http://www.cps800.com/download/1252.htm][color=#0000FF]回执表[/color][/URL]传真或邮寄给大会组委会,我们会给您预留座位。期待着您的关注与热情参与!<BR><BR>[B]联系方法[/B]<BR><BR>如有查询请联系2007’中国仪器仪表与测控技术交流大会秘书处 张悦月<BR>地址:北京市东城区北河沿大街79号二层 <BR>邮编:100009<BR>电话: 64044400<BR>传真:64067828<BR>投稿E-mail:ncemt@vip.163.com<BR>投稿联系人:于秋良<BR>