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东芝日前开发成功了通过动态控制SoC(系统级芯片)的工作电压与工作频率,降低耗电量的耗电控制技术(发布资料(日文))。目的是降低SoC工作时的耗电量,该公司称之为“部分fV控制技术”。据介绍,目前已经采用90nm工艺CMOS技术,试制出采用该技术的LSI,并且已经完成了基本功能测试。今后,将逐渐应用于自行开发的SoC,以及客户订购的ASIC中。预计采用该技术的产品将于2005年内亮相。 <BR><BR> 用来控制SoC工作电压与工作频率的耗电控制技术,索尼与美国全美达等多家公司已经投入实际应用。不过,这些现有技术对工作电压与工作频率实施控制的单位是整个LSI。而东芝此次开发的技术,其特点是能够以集成于LSI中的特定电路块为单位,单个设置工作电路与工作频率。因此,假如在某个电路块中采用了这次的耗电控制技术,那么通过将其作为IP内核进行移植,就能很容易地重新应用于其他LSI。东芝准备利用这一特点,缩短SoC的设计周期。 <BR><BR> 东芝采用“部分fV控制技术”试制的芯片是集成处理器内核“MeP(媒体嵌入处理器)”的便携终端用SoC。据悉,对某个电路块应用此技术后,业已证实将该电路块的耗电量降低了40%。 <BR><BR> 作为面向SoC的耗电控制技术,东芝过去就已经实际使用了“Selective-MT技术”。此技术的目的是降低SoC待机时的耗电量。该公司今后准备结合采用“部分fV控制技术”与“Selective-MT技术”,构筑产品设计环境——“东芝低耗电平台”。东芝将在“2005年电子设计与解决方案展(EDSFair 2005,1月27日在日本横滨Pacifico会展中心开幕)”上展出该平台。