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比表面及孔径分析仪

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公司名称:北京精微高博科技开发中心
所属类别:电源配套分类>>测试仪器
电子信箱:yangwenyan@jwgb.cn
联系电话:010-63326024
联 系 人:杨文艳
更新时间:2007-4-12 10:02:07
 
产品详情
JW-K型氮吸附比表面积及孔径分布分析仪

一、技术参数
测量原理:  动态常压连续氮吸附法(国内首创)
气体:    高纯氮(99.99%)、高纯氦(99.99%)
气体流量:  ≤100mL/min
流量控制:  稳压稳流系统,高精度流量传感器,数字显示,显示精度0.1%
测量压力:  常压
氮气相对压力:调节范围 0.05-0.98
主机功能:  (1)吸(脱)附等温曲线测定
       (2)孔径分布测定
       (3)BET比表面测定,并可测定吸附常数C 值
       (4)比表面快速测定(直接对比法)
测定范围:  (1)孔径:2nm~200nm      (2) 比表面:0.1~3500㎡/g
测量重复精度:≤±3%
测试时间:  (1)BET比表面:平均每个样品30分钟
       (2)孔径分布:平均每个样品3~4小时
       (3)数据采集:恒流电路,气体浓度传感器工作站,放大及滤除杂波系统,采集速度100次/秒。

二、产品特点
a)  采用氮吸附方法,在一台仪器中实现更多的测试功能;
b)  动态法对测试过程十分直观,可以看到不同氮分压条件下,氮吸附和脱附的全过程;
c)  采用了最先进的技术,从压力到流量实现氮气分压从0至100%的全程精确控制,孔径测试范围可从2nm至200nm;
d)  气路系统的巧妙设计,无须任何复杂的程序即可实现各种测量方法和功能的选择。

电话:010-68949817
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