可控硅测试仪系统概述
YB6200测试系统（以下简称系统）是本公司推出的一款先进的大功率半导体分立器件和半导体模块测试系统。
本系统适合各大研究院所做元器件检验，元件进厂检测筛选以及在线开发器件做生产测试。系统可扩展性强，通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满足用户大生产需要，故障率低也保证了用户的生产效率。在PC窗口提示下输入被测器件的测试参数即可完成填表编程，操作人员不需具备专业计算机编程语言知识，使用简捷方便。
系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证各种情况下测试结果的准确可靠。
系统面板的显示装置能够及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘，系统可以脱开主控计算机独立完成多种测试。
系统提供与机械手、探针台、电脑的连接接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。

 
1.2 YB6200测试范围
YB6200系统是专为测试半导体分立器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力，能够真实准确测试以下类型的半导体器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列：
1) 二极管DIODE
2) 晶体管 TRANSISTOR（NPN型/PNP型）
3) 稳压（齐纳）二极管 ZENER
4) 结型场效应管 J-FET （N-沟/P-沟，耗尽型/增强型）
5) MOS场效应管 POWER MOSFET（N-沟/P-沟）
6) 三端稳压器 REGULATOR（正电压/负电压，固定/可变）
7) 光电耦合器 OPTO-COUPLER（NPN型/PNP型）
8) 可控硅整流器（普通晶闸管） SCR
9) 双向可控硅 （双向晶闸管） TRIAC
10) 绝缘栅双极大功率晶体管 IGBT（NPN型/PNP型）
11) 光电逻辑器件 OPTO-LOGIC
12) 双向触发二极管 DIAC

1.3 YB6200测试仪指标
主极参数
1、主极电压： 2000V
2、电压分辨率：5mV
3、主极电流： 50A
加选件YB550向下可扩展到10pA，
加选件YB580向上可扩展到：100A,200A ，400A,500A。
4、电流分辨率1nA 加选件YB550分辨率为10pA
控制极参数
1、控制极电压：100mV---20V 加选件可扩展到80V
2、电压分辨率：1mV
3、控制极电流：100nA---10A 加选件可扩展到40A
4、电流分辨率：1nA 加选件YB550分辨率为10pA
5、测试速度：5MS/参数

1.4 YB系统参数配置
系统正常配置能提供的高阳极电压2000V，阳极电流为50A；
扩展电压和电流范围，可提供的选件有2000V阳极高压选件，250A/500A/750A /1000A/1250A阳极大电流选件。
电压分辨率：1mV；
电流分辨率：1nA
此外还可提供的小电流测试台选件，能够将漏电流测量分辨率从1nA扩展到10pA。
测试速度：1mS/参数(本系统采用填入式编程方法，专为国内用户开发)
测试参数：
漏电参数： IR、 ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、
IGESF、IGESR、IEBO、 IGSSF、 LGSSR、IGSS、IGKO、 IR(OPTO)
击穿参数： BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)
BVDSS、 VD、 BVCBO、、 VDRM、 VRRM、 VBB
BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ
BVEBO、 BVGSS、 BVGKO
增益参数： hFE、CTR、gFS、VGSTH、VGETH
导通参数: VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)
VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDSS、IDON、 Notch = IGT1，IGT4、ICON、VGEON、
VO(Regulator)、IIN(Regulator)
关断参数: VGSOFF
触发参数: IGT、VGT
保持参数: IH、IH+、IH-
锁定参数： IL、IL+、IL-
混合参数: rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
间接参数: IL