多通道LED寿命测试系统
产品详情
针对LED进行寿命测试，设备硬件依据LM-80标准测试方法开发设计，完全符合LM-80测试要求。该系统可精确设定高低温环境，使LED暴露在高温环境下，同时又精确控制LED结温，使LED在高温条件下老化，加速其光度衰减。并可根据不同时间节点的测试数据，推算出LED的寿命。系统设计极为人性化，LED老化设备方便与积分球系统对接测量，有效的提高测量效率。
特点
❉ 环境温度 能够有效控制LED的老化环境温度，即周围空气温度
❉ 湿度控制 对于老化温度箱内的湿度进行自动控制，并满足LM-80要求
❉ 壳温控制 能够控制每一组LED的壳温
❉ 温度测试 在厂家指定TS点的情况下，能够对每一颗LED的壳温进行测试
❉ 电流控制 每一颗LED由独立电流源供电，可单独控制输出电流
❉ 时间采集 精确采集每一组LED被点亮的老化时间
❉ 故障管理 自动扣除失效LED的老化时间
❉ 关闭周期 开关型LED，自动扣除关闭半周的时间
❉ 测试速度 能够在120秒内测量一组20颗LED
❉ 光度测试 5/10/20颗LED一组，每颗LED可顺序切换，单独测试光度值
❉ 色度测试 5/10/20颗LED一组，每颗LED可顺序切换，单独测试色度值
❉ 系统标准 标准灯可追溯到NIST
❉ 条码扫描 可根据要求拓展条形码扫描功能，自动读取产品编号
❉ 控制备份 有自主备份计算机，既可实现数据备份，也可实现控制备份
❉ 测试参数 包括光度参数、色度参数、温度参数、湿度参数、时间参数、电学参数
❉ 系统分离 整个系统分为老化、测量、分析输出三部分
❉ 寿命估算 提供参考寿命估算模型，也可以定制分析方法
❉ 测试报告 自动输出测试报告，并根据分析方法，得出寿命推算值
案例
❉ 东莞质检
❉ 常州质检
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