YB-6910 IPM 测试系统简介

一、系统概述

YB6910IPM 测试系统（以下简称系统）是本公司最新推出的一款先进的型新大功率器件和半导体模 块测试系统。

本系统适合各大研究院所做 IPM 检验，器件模块前端，后端检测筛选以及在线开发器件做生产测试。系统可扩展性强，通过选件可以提高电压、电流的测试能力和增加测试品种范围。自动快速测试可以满 足用户大生产需要，故障率低也保证了用户的生产效率。在 PC 窗口提示下输入被测器件的测试参数即可 完成填表编程，操作人员不需具备专业计算机编程语言知识，使用简捷方便。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证各种情况下测试结果的准确可靠。系统面板的显示装置能够及时显示系统的各种工作状态和测试结果。系统提供与机械手、探针台、电脑的连接接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。

二、系统参数配置

系统正常配置能提供 高阳极电压 2000V，阳极电流为 400A；

扩展电压和电流范围，

高 压 选件——1000V/2200V/3300V/4500V/6000V ，

大电流选件——100A/200A/400A /600A/1000A/2000A

测试项目：IPM IGBT DIODE

测试速度：1mS/参数(本系统采用填入式编程方法，专为国内用户开发)

主机尺寸(mm): 630（W）* 2500（D）* 1920（H）

重     量(kg): 330

电     源: 240VAC（-15%） 50/60HZ Fused 2A/1A

三、测试范围

【 静态参数指标 】

1、 下桥 IGBT/FRD 漏电流测试(Ices-L)

2、 上桥 IGBT/FRD 漏电流测试(Ices-H)

3、 上桥 IGBT/FRD 耐压测试(Bvce-H)

4、 下桥驱动 IC 静态工作电流测试（IDL）

5、 上桥驱动 IC 低端静态电流测试

6、 上桥驱动 IC 高端静态工作电流测试

7、 故障输出电压测试（Vfoh Vfol）

8、 过流保护阈值电压测试（Vcin（ref））

9、 下桥欠压保护监测电平（UVdd）

10、 下桥欠压保护复位电平（UVdr）

11、 上桥欠压保护监测电平 （UVbsd-U V W）

12、 上桥欠压保护复位电平（UVbsr-U V W）

13、 下桥驱动 IC 导通阈值电压（Vth（on）-UL VL WL）

14、 下桥驱动 IC 关断阈值电压（Vth（off）-UL VL WL）

15、 上桥驱动 IC 导通阈值电压测试（Vth（on）-UH VH WH）

16、 上桥驱动 IC 关断阈值电压测试（Vth（off）-UH VH WH）

17、 下桥 IGBT 饱和电压测试（Vce(sat)-UL VL WL）

18、 上桥 IGBT 饱和电压测试（Vce(sat)-UH VH WH）

19、 下桥 FRD 正向压降测试（VF-(UL VL WL)

20、 上桥 FRD 正向压降测试（VF-(UH VH WH)

【 动态参数指标】

  1、下桥开关参数

集电极电压 Vce：100～1200V，误差±3%，分辨 10V

集电极电流 Ice:10～75A，误差±3%，分辨 1A VD=VBS=15V, 误差±3%,分辨率 0.1V VIN=0～5V 误差±3%,分辨率 0.1Vton-L : 10～500nS, 误差±3%,分辨率 1nS tc（on）-L :5～200ｎS, 误差±3%,分辨率 1nS toff-L: 50～500ｎS, 误差±3%,分辨率 1nS tc(off)-L: 5～200ｎS, 误差±3%,分辨率 1nS Trr-L :10～500ｎS, 误差±3%,分辨率 1nS Eon-L :0.1～10ｍＪ,误差±3%,分辨率 0.1mJ

Eoff-L： 0.1～10ｍＪ误差±3%,分辨率 0.1mJ

2、上桥开关参数

集电极电压 Vce：100～1200V，误差±3%，分辨 10V

集电极电流 Ice:10～75A，误差±3%，分辨 1A VD=VBS=15V, 误差±3%,分辨率 0.1V VIN=0～5V 误差±3%,分辨率 0.1Vton-H : 10～500nS, 误差±3%,分辨率 1nS tc（on）-H :5～200ｎS, 误差±3%,分辨率 1nS toff-H: 50～500ｎS, 误差±3%,分辨率 1nS tc(off)-H: 5～200ｎS, 误差±3%,分辨率 1nS Trr-H :10～500ｎS, 误差±3%,分辨率 1nS Eon-H :0.1～10ｍＪ,误差±3%,分辨率 0.1mJ Eoff-H： 0.1～10ｍＪ误差±3%,分辨率 0.1mJ

测试条件：VPN=600V, VD=VBS=15V IC=50A, VIN=0↔5V，

开关损耗定义：

Eon：tc(on)时间段内 Vce*Ic 的积分，

Eoff：tc(off)时间段内 Vce*Ic 的积分。

3、短路测试

四、系统软件支持

器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为 Windows 或 WindowsNT 的 PC 机上 YB6910 接口程序实 现的。该程序提供快速的器件测试程序生成，具有全屏显示和增强型编辑帮助。

一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下，输入所选器件系列名称和测试类型，并选择所需测试的参数，而不必具有专业计算机编程语言知识。完成一个器件的测 试程序编制只需几分钟的时间，非常快捷方便。