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新闻ID号: |
1279 |
无标题图片 |
资讯类型: |
新品速递 |
所属类别: |
检测仪器 其他 |
关 键 字: |
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内容描述: |
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发布时间: |
2005/3/21 10:41:41 |
更新时间: |
2005/3/21 10:41:41 |
审核情况: |
已审核开通[2005/3/21 10:41:41] |
浏览次数: |
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责任编辑: |
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发 布 者: |
电源在线 |
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内 容: |
近日,日本分光公司推出该公司最新系列紫外-可见-近红外光谱仪——V-7000。据日本分光公司相关人士介绍,该产品的光谱范围为175-3300 nm,峰分辨率< 0.5 nm。该系统采用了新颖的浮动设计,极大降低了振动和环境因素对光路系统的干扰,扫描速度达到2000 nm/min。此外,V-7000可选用的附件包括绝对反射测量系统,可自动完成对固体样品的光谱特性、薄膜厚度、角变量等方面的测试。该系统的入射角和收集角既可被设为同步模式,可同时旋转样品台和积分球,也可设置成为交替模式。 |
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