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安捷伦将在京沪深港四地举办芯片测试新技术研讨会
新闻ID号:  3113 无标题图片
资讯类型:  交流培训
所属类别:  检测仪器; 传感器; 连接器及端子; 辅助材料; 其他
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发布时间:  2004/11/12 16:14:56
更新时间:  2004/11/12 16:14:56
审核情况:  已审核开通[2004/11/12 16:14:56]
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发 布 者:  电源在线
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  安捷伦科技(Agilent Technologies)日前宣布,该公司将于9月8日、10日、13日和14日分别在北京、上海、香港和深圳四地举办芯片测试新技术研讨会(Agilent SOC Test Symposium )。

  据悉,安捷伦的资深技术工程师届时将在研讨会上就多个主题展开演讲,其中在北京、上海和深圳三地的主题包括:《系统级芯片测试的下一领域》、《更高性能,更低成本:混合信号测试的下一领域》、《DOCSIS 2.0和HDTV测试挑战》、《COT & Test Reduction》、《ACLR测量》、《高速测试的下一领域》等;而香港站的研讨会则包含上述部分主题。

  安捷伦表示,混合信号与高速俨然已成为科技发展市场的主流。在电子消费领域,为实现高质量的音频、视频、基带I/Q ADC和DAC,业界面临全新的混合信号测试挑战。市场价格竞争也日益激烈,应此需求,安捷伦AV8集混合信号八大功能于一身的加强版,可大大增强测试灵活性,并协助降低投资。

  而在高速测试方面,安捷伦继2003年推出PCI Express测试解决方案——NP2500,协助客户开发及验证程序,更上一层楼推出了降低测试成本兼错误涵盖率(Fault Coverage)的BIST Assist 6.4。