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是德科技推出新型并行参数测试系统,助力实施经济高效的高吞吐量晶圆测试
新闻ID号:  63559 无标题图片
资讯类型:  新品速递
所属类别:  测试仪器
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发布时间:  2021/12/14 16:51:53
更新时间:  2021/12/14 16:51:53
审核情况:  已审核开通[2021/12/14 16:51:53]
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发 布 者:  电源在线
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  2021年12月6日,中国北京——是德科技公司(NYSE:KEYS)日前宣布,推出新型Keysight P9002A并行参数测试系统。该系统可以实现高吞吐量、经济高效的晶圆测试,从而加速产品上市,降低制造测试成本。是德科技提供先进的设计和验证解决方案,旨在加速创新,创造一个安全互联的世界。

  目前,全球半导体供应不足导致半导体的需求尤其是在汽车行业、数字设备和家用电器行业不断地加大。半导体技术创新虽然进展迅速,然而该行业在适应新材料、降低外形尺寸以及3D封装工艺方面遇到了一系列技术挑战。此外,针对5G、数据中心、人工智能(AI)和汽车等商业应用而设计的各种复杂器件也导致了测试参数有增无减。

  为了应对这一挑战并使得制造商能够快速提升产能,是德科技推出了新型P9002A并行参数测试系统。该系统可以实现高吞吐量、经济高效的晶圆测试。它采用了一个灵活的选件结构,可用于最多100个通道并行测试资源,有能力对每个测试资源执行参数测试。是德科技P9000系列运行的软件可以与SPECS软件兼容,后者运行在4080系列参数测试系统上,因此客户能够充分利用有数据关联性的现有测试程序和测试计划。

  是德科技的新型P9002A并行参数测试系统具有以下关键优势:

  能够根据测试要求添加选件,采用了有利于控制成本预算的许可证结构。

  ·与4080系列参数测试系统相比,独特的参数测试技术和快速电容测量可显著提高测试吞吐量。

  ·可以兼容Keysight 4080系列参数测试系统并关联数据,使得客户能够充分利用其现有测试系统程序、测试计划、探针卡及兼容4080测试系统的探针卡适配器,从而最大限度降低搭建新P9002A测试环境的成本。