您的日常工作中是否会经常用到以下仪器设备:
数字万用表、示波器、信号源、声音/噪音析仪以及射频信号分析仪/发生器等高性能硬件?
您的日常工作是否涉及复杂信号的测试测量?
这些被测对象可能包括各种混合信号:高频、低频、模拟、数字、小幅值或大幅值信号等等。
您是否希望拥有一个自动化测试平台?
这个平台集成了上面各种常用仪器、能够对各种复杂信号进行测试、并且拥有一个可编程环境从而允许用户对仪器的功能和测试项目进行自定义。
National Instruments (NI) 为以上问题提供了一个解决方案—基于虚拟仪器技术和PXI总线技术的模块化仪器平台。
NI模块化仪器采用最先进的商业技术,能为测试与控制应用提供分辨率高达28-bit的高精度设备,以及频率高达2.7GHz的射频测试设备。加上LabVIEW这样强大的软件平台以及PXI总线特有的触发和同步时钟,从而为用户提供了一个小型集成的实验室和工业级的自动化测试与控制平台。使用NI模块化仪器建立的系统比传统的仪器具有更强的集成性与扩展性、更高的测量精度、更大的数据吞吐量和更加精确的同步特性。
通过本次研讨会,您将了解到以下几方面内容:
• 模块化仪器概述及模块化仪器硬件设备
• 模块化仪器开发软件LabVIEW的测量函数和分析功能
• 如何运用模块化仪器建立自定义的测试与控制系统
• 如何选择合适的硬件模块并在NI软件环境中开发自己的应用
• 如何构建一个自动化的高效测试平台,以及相关附件
时间与地点
2005/12/06 长沙 14:00 - 16:30长沙麓山宾馆3号楼2楼会议室(长沙市枫林一路19号)
如果您想预先了解NI模块化仪器以及相关软件,请访问:
http://www.ni.com/modularinstruments/zhs/
测控专家咨询热线—立刻致电NI免费索取中文版LabVIEW教材
http://www.gongkong.com/customer/ni/FreeConsultation.asp
更多信息请访问[URL=http://www.ni.com/china]http://www.ni.com/china[/URL],点击活动安排与培训课程。或与NI上海分公司联系:上海市曲阳路800号商务大厦6楼(200437),电话:(021)65557838,传真:(021)65556244,E-mail:china.info@ni.com。免费咨询电话:800 820 3622
数字万用表、示波器、信号源、声音/噪音析仪以及射频信号分析仪/发生器等高性能硬件?
您的日常工作是否涉及复杂信号的测试测量?
这些被测对象可能包括各种混合信号:高频、低频、模拟、数字、小幅值或大幅值信号等等。
您是否希望拥有一个自动化测试平台?
这个平台集成了上面各种常用仪器、能够对各种复杂信号进行测试、并且拥有一个可编程环境从而允许用户对仪器的功能和测试项目进行自定义。
National Instruments (NI) 为以上问题提供了一个解决方案—基于虚拟仪器技术和PXI总线技术的模块化仪器平台。
NI模块化仪器采用最先进的商业技术,能为测试与控制应用提供分辨率高达28-bit的高精度设备,以及频率高达2.7GHz的射频测试设备。加上LabVIEW这样强大的软件平台以及PXI总线特有的触发和同步时钟,从而为用户提供了一个小型集成的实验室和工业级的自动化测试与控制平台。使用NI模块化仪器建立的系统比传统的仪器具有更强的集成性与扩展性、更高的测量精度、更大的数据吞吐量和更加精确的同步特性。
通过本次研讨会,您将了解到以下几方面内容:
• 模块化仪器概述及模块化仪器硬件设备
• 模块化仪器开发软件LabVIEW的测量函数和分析功能
• 如何运用模块化仪器建立自定义的测试与控制系统
• 如何选择合适的硬件模块并在NI软件环境中开发自己的应用
• 如何构建一个自动化的高效测试平台,以及相关附件
时间与地点
2005/12/06 长沙 14:00 - 16:30长沙麓山宾馆3号楼2楼会议室(长沙市枫林一路19号)
如果您想预先了解NI模块化仪器以及相关软件,请访问:
http://www.ni.com/modularinstruments/zhs/
测控专家咨询热线—立刻致电NI免费索取中文版LabVIEW教材
http://www.gongkong.com/customer/ni/FreeConsultation.asp
更多信息请访问[URL=http://www.ni.com/china]http://www.ni.com/china[/URL],点击活动安排与培训课程。或与NI上海分公司联系:上海市曲阳路800号商务大厦6楼(200437),电话:(021)65557838,传真:(021)65556244,E-mail:china.info@ni.com。免费咨询电话:800 820 3622
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本文链接:NI自动测试测量系统与仪器技术研讨会
http:www.cps800.com/news/2005-11/20051115104835.html
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