安捷伦科技公司(Agilent)日前宣布推出安捷伦Medalist VTEP v2.0,这是由非向量测试功能组成的套件,其中包括新的NPM测量技术。这一测试功能包括NPM测量技术,用户可以检测连接器上电源管脚和接地管脚中的开路。
随着信号在电路板上传输的速度越来越高,如在PCIe、DDR和SATA连接器上,正确接地正变得日益关键。随着速度提高,接地针脚上的开路可能会导致信号集成的设计范围降低,误码率(BER)提高,放射电磁干扰(EMI)提高。
安捷伦VTEP v2.0是为帮助制造商检测这些关键缺陷而设计的,功能测试和产品发售中可能检测不到这些缺陷,在后期可能会给制造商带来更高的成本。
此外,通过VTEP v2.0,用户可以获原有得VTEP技术的优势,如更高的灵敏度,更有效地降低噪声;同时获得iVTEP的优势,该技术面向采用最小引线框或不带引线框的超小型集成电路封装。iVTEP还适用于带有散热片的设备及带有附加散热器的器件。
安捷伦还为印刷电路板组件推出了Medalist i3070在线测试系统。VTEP v2.0采用与原有VTEP相同的硬件,因此不要求进行硬件升级。
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编辑:Ronvy
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本文链接:安捷伦在线非向量测试套件VTEP v2
http:www.cps800.com/news/2007-4/2007426912.html
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文章标签: 安捷伦/在线非向量测试套件/VTEP
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