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泰克为业界领先的DDR测试和验证解决方案系列增加两项新功能

2009/12/7 9:49:55   电源在线网
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泰克为业界领先的DDR测试和验证解决方案系列增加两项新功能
新功能包括TLA7000逻辑分析仪提供的DDR3-1867存储器总线数据捕捉和分析功能以及业内首项LP-DDR2测试和验证功能

    泰克公司日前宣布增强和升级其业界领先的DDR测试和验证解决方案系列。用于泰克TLA7000系列逻辑分析仪的新型内插器为工程师提供了最新DDR3-1867标准的总线捕捉和分析功能。新型内插器大大降低了TLA7000系列的DDR3测试成本,使存储器总线捕捉功能能为更多的设计人员所使用。泰克同时还为DDR标准最新的节能版LP-DDR2推出业内第一款电气接口测试和验证解决方案。这些新功能完善了泰克全面而广泛的DDR存储器解决方案,为验证和改善工程师的设计提供帮助。

    DDR3-1867是最新一代双倍数据速率存储器技术,DDR存储器标准组织JEDEC制订的最新版DDR3标准规范中现已包括这一技术。DDR3-1867专为满足如电脑游戏、服务器、超级计算、笔记本电脑和高清电视等各种应用中对更快性能的需求而设计,能提供更高的数据传输速率和更低的能耗等诸多优势。

    泰克TLA7000系列逻辑分析仪配合Nexus Technology公司的新型内插器解决方案及配套软件,为设计人员提供了一套完善的DDR3(包括高速DDR3-1867)的调试和验证工具。Nexus Technology公司是泰克的嵌入式解决方案工具合作伙伴。

    “存储器系统的验证和调试要求仪器拥有出色的信号捕捉能力、测量精确度、强大的触发和高性能探测能力。”泰克公司逻辑分析仪产品线总经理Dave Farrell说,“通过与Nexus Technology公司合作,我们能够为广大客户提供了一种简便、经济地捕获DDR3信号的途径,并支持更高的数据速率和时钟频率。”

    Nexus Technology公司总裁Robert Shelsky说:“通过与泰克密切合作,我们的DDR3解决方案可以以合理的价位提供前所未有的DDR3存储器模拟和数字验证。”

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  来源:泰克
本文链接:泰克为业界领先的DDR测试和验证解决方
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