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顶尖传感器、测试测量技术亮相IAC 2009

2009/6/2 16:20:20   电源在线网
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    作为IAC,TME+SENSOR的老朋友,德国传感器技术协会AMA将一如既往组织来自欧美地区的顶尖传感器、测试测量方面的公司参与展会,亮相AMA 中心。
 
  IAC,TME+SENSOR 2009期间将有包括Dittrich、UST、STW、Merit、Delta-R、Jenoptik等公司在内的10余家公司参与。其中Merit、Delta-R、Jenoptik等公司均为首次亮相该展会。他们将在展会期间为国内用户和观众带来领先的包括陶瓷传感器、白金电阻温度元件、工业激光传感器、传感器信号调理芯片等方面的技术和产品。
 
  除了展会以外,AMA 中心的相关公司还将参与包括第二届传感器、测试测量、创新传感器论坛等活动,与业界的朋友探讨来自传感器、测试测量系统方面的相关技术与应用话题。位于上海光大会展中心展馆2楼的AMA中心欢迎各位朋友前往进行交流与洽谈。■
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  来源:IAC项目组
本文链接:顶尖传感器、测试测量技术亮相IAC 2
http:www.cps800.com/news/2009-6/200962162020.html
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