基于0.5μm BCD工艺的欠压锁存电路设计
上传时间:2009/11/27 14:09:26
摘要: 随着集成电路技术的发展,对电源管理芯片的开关频率、传输延迟、稳定性、功耗等各种要求越来越高,以保证电源电压在波动的情况下能够可靠的工作。
一般的电源芯片上电启动时,电源会通过输入端的等效电阻和电容对其充电,使得电源芯片的电压逐步上升,直到电压上升到芯片的开启电压时电路正常工作。然而若系统的负载电流较大,有可能把电路的电压拉低到开启电压以下,出现一开启就关断的情况。为了保证电路正常进入启动状态并且稳定工作,同时也为了电路工作时电源电压的波动不会对整个电路和系统造成损害,一般使用所谓的欠压锁存(Under Voltage LockOut,UVLO)电路对电源电压实时监控和锁存。
一般的电源芯片上电启动时,电源会通过输入端的等效电阻和电容对其充电,使得电源芯片的电压逐步上升,直到电压上升到芯片的开启电压时电路正常工作。然而若系统的负载电流较大,有可能把电路的电压拉低到开启电压以下,出现一开启就关断的情况。为了保证电路正常进入启动状态并且稳定工作,同时也为了电路工作时电源电压的波动不会对整个电路和系统造成损害,一般使用所谓的欠压锁存(Under Voltage LockOut,UVLO)电路对电源电压实时监控和锁存。
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--本文摘自EDN电子设计技术,已被阅读2331次
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