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力科在PCI-SIG开发者大会展示PCI Express 3.0测试套件

2011/6/24 9:00:00   电源在线网
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    6月22-23日,力科公司将于加利福尼亚的圣克拉拉市举行的PCI-SIG®开发者大会上展示针对PCI Express®3.0(PCI® 3.0)规范的最全面的协议感知的测试套件以及解决方案,作为该会议的白金赞助商,力科将演示一套集成的测量调试方案,包括物理层发射机和接收机测试项、TDR/S-参数测试设备和备受业界赞誉的协议分析仪平台。这套高级测试套件完全满足串行数据测试的需求,这对传统的物理层测试工具提出新要求的PCI Express 3.0规范来说是独一无二的。不仅是规范要求接收机测试仪需要具有协议感知,其它某些PCI Express3.0规范的特性如动态均衡,还需要物理/协议层测试的功能的结合,以便验证调试。如今力科可以提供全部这些功能,将使用最广泛的物理层、协议层和网络分析工具结合为一体,完成PCI Express 3.0发射机、接收机和通道测试的全部工作。

    “力科将一如既往地专注于提供针对已有和未来的串行数据标准的完整的、端到端的解决方案。我们最新的产品提供了针对PCI Express 3.0完整的端到端的解决方案,使力科在该领域成为领导者。我们在该领域的持续投入,将保证我们的客户可以一直享用最新的和最佳的工具来进行串行数据标准的调试和一致性测试”,力科CEODavid C. Graef说。

    PCI Express 3.0测试套件使用SDA 820Zi-A示波器进行发射机测试;接收机测试由PeRT3 Phoenix协议感知接收机和发射机容限测试仪完成;S-参数和TDR测试由SPARQ信号完整性网络分析仪完成;协议分析的工作由各种的协议分析仪和支持单通道x16带宽、数据速率从2.5GT/s到8GT/s、具有业内最丰富的内插探针的实验仪器来完成。这些仪器是对力科产品研发团队实力的证明,他们超越了硬件和软件的限制,这些限制挑战着当今高速设计工程师,也是业内合作伙伴以及信号完整性组织,如PCI-SIG®所长期奋斗的。

    “我们非常高兴力科再次成为今年开发者大会的白金赞助商”PCI-SIG主席Al Yanes说,“力科自从最早加入开发了PCIe 3.0规范的PCI-SIG的电子工作组、卡机电组和串行启动组时就开始积极发挥作用。”

    力科PCI Express 3.0测试套件的优势

    PIC Express 3.0发射机信号完整性和发射机预调测试要求数据速率达到8Gb/s,并要求20GHz的带宽来进行第五次谐波捕获。具有无人能比信号保真度的4通道、20GHz带宽的SDA 820Zi-A示波器成为该项测试的理想仪器。另外,SDA 820Zi-A可以轻松完成PCIe 3.0的关键测试项,如多通道定性分析和动态链接均衡定位。

    测试工程师使用ProtoSync™和PCIe解码注释工具可以发现协议级别的DLLP发送、物理层响应、眼图开窗、定位链路培训中的变化和状态机示图。运行在力科示波器上的ProtoSync是唯一可以同时捕获帧级CATC™协议视图和其相关联的物理层信号的装置。该功能将严格的硬件领域测试和软件工程师有机地结合在一起,加快了疑难杂症的调试速度。

    特有的PeRT3 Phoenix使用3-tap解加强来模拟发射机均衡预设,在8b/10b和128b/130b的编解码之间提供无缝的传输,还包括了完整的抖动轮廓。协议感知的功能对于发射机链接均衡响应测试、接收机链接均衡测试和接收机抖动容限测试的需求来说至关重要。

    力科PeRT3、PCIe解码注释和ProtoSync工具集可以对500ns均衡器响应时间进行直接验证,包括相位均衡期间的时间和通信的直观视图证据。

    发射机、接收机、通道和串扰测量可以由力科SPARQ来完成。这些测试包括:Tx和Rx回波损耗、中断和校准通道定性分析、接收机回波损耗、5GT/s和8GT/s通道一致性测试。SPARQ是新一代的仪器;信号完整性网络分析仪。SPARQ,缩写为 “快速S-参数”,它是一个TDR/TDT分析仪,使用一个按键就可以测量40GHz、4端口S-参数,而成本却只有VNA的一小部分。

    Summit T3-16协议分析仪能够捕获、解码并显示在根联合体和终端设备间的PCI Express 3.0协议通信,并使用动态均衡来对系统的插入式探测自动校准进行描述。

    Summit Z3-16协议测试仪可以生成类似于模拟的根联合体或者终端的,高达x16的通道上的PCI Express 3.0通信。工程师可以测试连接稳定性、速度/通道大小/LTSSM状态变化、DLLP和TLP事物处理层的运行。使用Summit T3-16协议分析仪捕获PCI Express 3.0通信,并在Summit Z3-16分析仪上对进行角落测试的设备的数据进行回放。g

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