力科公司，世界领先的示波器、串行数据测试解决方案以及网络分析仪供应商，今天正式发布8端口和12端口系列的信号完整性网络分析仪SPARQ。SPARQ使得S参数测量变得更加快捷且价格只有网络分析仪（VNA）的几分之一。使用8端口或者12端口的SPARQ，信号完整性工程师将能够对多链路差分结构的产品的串扰特征进行分析。
高速多链路串行数据信号正得到市场的广泛应用，这给设计工程师带来了很多新的挑战。使用传统的网络分析仪来测量8端口或者12端口的S参数会非常昂贵而且耗时间。因此工程师需要更合适且买得起的测试工具。力科新的SPARQ价格只有功能较少的矢量网络分析仪（VNA）的几分之一。比如说，12端口SPARQ的价格和4端口的VNA的价格相当。所有的SPARQ使用一套内置的OSLT校准件，这使得使用者能够快速的校准分析并测量被测件，而不需要使用容易发生错误的外部标准校准件。这意味着使用者可以在大约30分钟内完成所有12端口S参数的测量，而其中还有一大部分是我们不必关注的采集和计算时间。
多链路串行数据系统中的串扰问题需要12端口S参数
云计算，移动计算，智能手机，以及流式视频应用正推动市场追求越来越高的网络带宽。为了满足这些需要，今天或者将来的通信标准几乎都使用了多链路差分信号以传输日益增加的比特流信息。多链路差分信号正变得越来越普及，被广泛用于诸多的高速标准如PCIe Gen3，串行Rapid IO，InfiniBand，以及40/100 Gbase 以太网。尤其是信号完整性问题会导致通道间的串扰及相互影响，比如码间干扰会导致闭合的眼图和更大的抖动。信号完整性工程师也会发现为了避免设计问题及昂贵的重新设计，他们在设计多链路差分电路和互连时就必须尝试预测和理解这些问题。
当使用4端口网络分析仪时，信号完整性工程师只能够测量一对差分链路的S参数。然而，这些测量只表征了一部分电路的行为特征，而不能够表征链路之间的串扰。使用力科的SPARQ-3012E，只需点击一个按钮，使用者即能够测量完整的12端口S参数矩阵，包括单端模式以及混合模式。S参数结果描述了多达三对差分链路的近端串扰（NEXT）和远端串扰（FEXT），该S参数矩阵可被用于侵害-受害-侵害模型以预测电路性能以及用于使眼图张开的发送端和接收端的均衡调整。新的SPARQ的标称截止频率为30GHz，且能够将S参数结果恢复到40GHz，这使得SPARQ广泛适用于大部分多链路的串行数据标准的串扰测量。
SPARQ：快速测量S参数
8端口和12端口的SPARQ是力科在2010年9月发布的信号完整性网络分析仪SPARQ系列的延伸。SPARQ是专门针对信号完整性应用的更专业产品，使用TDR/TDT的原理和技术来测量无源器件的S参数。SPARQ使用者将SPARQ连接到他们的被测DUT和他们的PC，PC用于运行SPARQ应用软件。设好端口数、测量点数以及截至频率后，只需点击“Go”按钮即开始快速的测量。
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