随着LED市场发展快速,寿命评估已经成为新兴照明应用的一个关注点。传统热管理面临一大挑战:传统温度测试并不适合测试所有灯具,这就迫切要求建立一个有效和快速的寿命评定方法,以支持和推动LED产业发展。
桂林电子科技大学院长、教授杨道国在2012中国国际半导体照明论坛上做题为《LED灯具寿命的快速检测:阶梯压力加速测试》的报告时提出,半导体行业通常有一个可靠性测试方法:持续加速测试。但是这个测试对高可靠性产品并不很适用,因此必须设计出阶梯压力加速测试,以减短测试时间。
杨道国教授提出的阶梯压力加速测试有几个优点:适合长寿命的产品、测试时间短、测试样本小、显示出LED产品潜在的可靠性试验应用,其次阶梯压力加速测试对LED产品进行研究,在设计实验的基础上取得了一些初步结果。根据这个实验结果可以得出快速寿命评估方法适用于LED产品。
因为内部测试,寿命等方面不同,可靠性测试有很多挑战。而阶梯压力加速测试是有效的方法,目前已经进行了初步测试,希望未来对模具也能进行测试,期待得到更多结果。
在提到有效性测试时,杨道国教授表示目前有几种方法能减少测试时间、降低测试成本。比如将各个次体统相结合,建立一个完整系统的方法,其模拟结果与真实结果对比,发现在节温上长效机制得到改变。<
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本文链接:LED灯具寿命的快速检测:阶梯压力加速
http:www.cps800.com/news/35539.htm
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文章标签: LED灯/半导体照明/LED产品
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