美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）2011年度“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站于11月18日在上海国际会议中心圆满落幕。围绕“融汇成功、启迪未来”这一主题，本届NIDays打造了一场分享与交流的技术盛会，聚焦不同行业的成功应用，启迪未来的项目实践，加速创新。活动共吸引了近千余位来自不同行业的工程师和二十多家行业媒体参加。
全天的活动以NI总裁兼CEO James Truchard博士的主题发言“图形化系统设计开启创新的新纪元”拉开了序幕。Truchard博士也是首次亲临NIDays中国站活动的现场。Truchard博士结合了数十年的业内经验和技术理解，同与会者一起回顾了仪器的发展历史与演进，深入介绍了图形化系统设计为工程师和科学家们带来应用的创新，以及NI公司的愿景及使命。贯穿全天的7大专题、20多场技术讲座、两大实践动手专题课程，产品平台和行业应用展示，除了带领与会者感受最新的测控技术趋势和NI产品特性之外，更是着眼于行业应用，涉及汽车、国防与航空航天、交通与基础建设以及能源与电力等领域，全方位地展示了NI如何携手各领域的工程师和科学家们利用图形化系统设计平台，不断创新，解决各种应用挑战。
NIDays不仅为工程师和科研工作者提供了一个了解最新产品和技术的平台，而且致力于打造成为工程师的节日，让与会来宾在轻松有趣的气氛中有所收获。为此，本届NIDays开辟了图形化系统设计用户社区板块，为互动和分享提供了一个现场开放的展示平台。除了丰富的本地资源互动展示，还有精彩纷呈的应用技巧和经验分享，包括了LabVIEW实用技巧，各类热门技术网络资源，以及全国级大赛获奖选手的现场分享等。此外，闭幕式压轴上演了“虚拟仪器技术应用方案有奖征文竞赛”颁奖仪式，将本次活动再次推向了高潮。
主题演讲
媒体见面会
- 1
- 2
- 总2页
0755-82905460
邮箱 
：
